Sistema de imagem submicrônica 3D ZEISS Xradia 510 Versa com flexibilidade inovadora

Use este microscópio de raios-X para quebrar as barreiras de resolução de 1 mícron para realizar imagens 3D e estudos in situ / 4D.

A combinação de resolução e contraste com distâncias de trabalho flexíveis amplia a capacidade de imagem não destrutiva no laboratório.

Graças à sua estrutura com tecnologia de amplificação de dois níveis, a resolução submicrônica a longa distância (RaaD) é possível. Reduza a dependência da amplificação geométrica para manter a resolução submicrônica mesmo a grandes distâncias de trabalho.

Desfrute da versatilidade mesmo com grandes distâncias de trabalho da fonte de luz (de milímetros m a centímetros).

Imagem 3D de materiais macios ou de baixa Z com capacidade de absorção avançada e revestimento inovador

Resolução líder mundial em distâncias de trabalho flexíveis que vão além dos limites de microCT projetiva

Resolve características submicrônicas para adaptar-se a vários volumes de amostra

Expanda a imagem sem perdas do laboratório com soluções in situ / 4D

Investigar materiais ao longo do tempo em ambientes semelhantes aos nativos

Qualidade da imagem

　　Caixa de ferramentas de reconstrução avançada da ZEISSMelhor qualidade de imagem, maior rendimento

A Advanced Reconstruction Toolbox é uma plataforma inovadora no microscópio de raios-X 3D ZEISS Xradia para acesso a tecnologias avançadas de reconstrução. Os módulos únicos aproveitam a profunda compreensão dos princípios da física de raios-X e das aplicações do cliente para resolver os desafios de imagem mais difíceis de maneira inovadora.

Você pode encontrar informações sobre os últimos avanços tecnológicos na microtecnologia de raios-X aqui:

Usando a Caixa de Ferramentas de Reconstrução Avançada, você pode:

Melhore a coleta e análise de dados para tomar decisões precisas e rápidas

Melhora significativamente a qualidade da imagem

Excelente imagem ou fluxo de estratificação interna em uma variedade de amostras

Revela nuances melhorando o contraste

Para categorias de amostras que exigem fluxos de trabalho repetidos, aumente a velocidade em uma escala de quantidade

　　Usando IA para promover a tecnologia de reconstrução Imagem de raios-X 3D super carregada

Um dos principais desafios ao aplicar o microscópio de raios-X para resolver problemas acadêmicos e industriais é fazer um compromisso entre o fluxo de imagem e a qualidade da imagem. O tempo de captura para a microfotografia de raios-X 3D de alta resolução pode ser de várias horas e, quando compensadas as vantagens relativas da análise 3D de alta precisão realizada usando técnicas analíticas baratas e de baixo desempenho, pode resultar em cálculos de retorno do investimento (ROI) extremamente desafiadores.

Para resolver este problema, é necessário otimizar cada etapa para gerar informações operacionais a partir desses microscópios. Para a tomografia de raios-X 3D, essas etapas geralmente incluem a instalação de amostras, configuração de varredura, captura de imagens de projeção 2D, reconstrução de imagens 2D a 3D, pós-processamento e segmentação de imagens e análise final.

　　O fluxo de imagem ZEISS DeepRecon para amostras repetidas é 10 vezes mais rápido

O ZEISS DeepRecon para o ZEISS Xradia XRM é a primeira tecnologia de reconstrução de aprendizado profundo comercializada. Ele permite que você aumente o rendimento em uma escala de quantidade (até 10 vezes) sem sacrificar a nova resolução de longa distância XRM para aplicações de fluxo de trabalho duplicadas. O DeepRecon coleta de forma única oportunidades ocultas nos grandes dados gerados pelo XRM e oferece melhorias significativas em velocidade ou qualidade de imagem impulsionadas pela IA.