O Remote VNF-200 VCSEL foi projetado para a análise de características de campo próximo da superfície do VCSEL, com velocidades de medição rápidas, alta resolução óptica e alta precisão de medição. O instrumento usa um sistema microóptico combinado com um sistema de imagem e é projetado de acordo com as características do VCSEL para realizar a análise de radiação de microimagem de alta magnificação do VCSEL. Obtenha dados de arranjo de matriz bidimensional da superfície VCSEL, detecção de pontos ruins e brilho de radiação por meio de uma única medição, ao mesmo tempo que obtém tamanhos de pontos únicos. Equipado com software de análise dedicado para a produção de relatórios de teste em conformidade com os padrões. Para análises rápidas e precisas das características da superfície VCSEL em linhas de produção e laboratórios.